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EM TEST  CWS 500N4共模傳導(dǎo)干擾模擬器

      EM TEST  CWS 500N4共模傳導(dǎo)干擾模擬器是目前先進(jìn)的超小型一體化 0 Hz (DC) - 150 kHz 共模傳導(dǎo)干擾測(cè)試方案。按照 IEC 61000-4-16 標(biāo)準(zhǔn)要求，該設(shè)備能夠覆蓋在 DC，16 2 / 3 Hz，50 Hz 和 60 Hz 頻點(diǎn)上進(jìn)行 4 個(gè)測(cè)試等級(jí)的連續(xù)模式和短時(shí)模式測(cè)試，并且也可以進(jìn)行 4 個(gè)測(cè)試等級(jí)的從 10 Hz 至 150 kHz 的掃頻模式測(cè)試。

符合下列標(biāo)準(zhǔn)
?   EN 61000-4-16
?   IEC 60255-22-7
?   IEC 60533
?   IEC 61000-4-16
?   IEC 61000-4-19, Annex C
?   IEC 61326
?   IEC 61543
?   IEC 61850-3
?   prTR 50579

應(yīng)用領(lǐng)域
?   工業(yè)
?   家電

EM TEST  CWS 500N4共模傳導(dǎo)干擾模擬器主要特點(diǎn)

?   符合 IEC 61000-4-16標(biāo)準(zhǔn)的超小型共模傳導(dǎo)干擾測(cè)試設(shè)備
?   內(nèi)置低頻信號(hào)發(fā)生器和低頻放大器
?   掃頻模式頻率范圍 15 Hz - 165 kHz
?   內(nèi)置用于直流測(cè)試的整流模塊
?   內(nèi)置電壓表（均方根值）
?   內(nèi)置半導(dǎo)體功率開(kāi)關(guān)
?   在連續(xù)模式和短時(shí)模式下，測(cè)試頻率為 DC，16 2 /3 Hz，50 Hz 和 60 Hz
?   USB 接口

EM TEST  CWS 500N4共模傳導(dǎo)干擾模擬器選型指南

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