Mentor Graphics PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)
隨著IGBT等電力電子器件的功率不斷增大，應(yīng)用的范圍也隨之變得越來越廣，從電機(jī)驅(qū)動(dòng)、光伏逆變器，到鐵路牽引、電動(dòng)/混合動(dòng)力汽車無不涉獵。但是電力電子器件不僅要工作在正常狀態(tài)下，有時(shí)候也需要工作在極端情況下，電子電子器件的工作性能會(huì)直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的工作性能，因此IGBT等電力電子器件的功率循環(huán)及熱測試在整個(gè)研發(fā)、生產(chǎn)過程中尤為重要。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)基于MicReD T3Ster瞬態(tài)熱測試技術(shù)進(jìn)行工業(yè)化開發(fā)和應(yīng)用，提供全自動(dòng)的功率循環(huán)測試，針對(duì)MOSFET、IGBT和通用的兩極功率器件可以進(jìn)行三個(gè)樣品同時(shí)測試，每個(gè)樣品最高電流可達(dá)500A，對(duì)于單個(gè)電力電子器件進(jìn)行功率循環(huán)測試時(shí)，最高電流可達(dá)1500A。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)支持自動(dòng)功率循環(huán)及熱測試，利用實(shí)測的數(shù)據(jù)對(duì)老化過程中器件出現(xiàn)的缺陷進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測。PT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)首次同時(shí)集成了自動(dòng)功率循環(huán)、熱測試以及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析功能，客戶只需要一個(gè)平臺(tái)就能夠?qū)ζ骷M(jìn)行熱測試及可靠性，無需再像以往一樣先進(jìn)行功率循環(huán)老化，再轉(zhuǎn)移到其他設(shè)備進(jìn)行診斷。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)能夠在功率循環(huán)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)控電流（包括柵極電流）、電壓以及結(jié)溫等參數(shù)，同時(shí)利用結(jié)構(gòu)函數(shù)分析循環(huán)過程中封裝結(jié)構(gòu)的改變和缺陷等。PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)可以用于幫助客戶加強(qiáng)以及加速封裝結(jié)構(gòu)研發(fā)、可靠性測試以及可靠性篩選的批量測試。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)在進(jìn)行功率循環(huán)的同時(shí)，可以實(shí)時(shí)提供結(jié)構(gòu)函數(shù)的分析結(jié)構(gòu)以顯示正在發(fā)展的缺陷，循環(huán)數(shù)以及失效的原因，這樣可以省去循環(huán)結(jié)束后的實(shí)驗(yàn)室檢測。PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)可以對(duì)多樣品長時(shí)間進(jìn)行功率循環(huán)測試，告別傳統(tǒng)的先確定器件衰減發(fā)生的時(shí)間范圍，再在該時(shí)間范圍內(nèi)進(jìn)行一系列的熱測試以確保獲得衰減數(shù)據(jù)。（與傳統(tǒng)的功率循環(huán)設(shè)備相比，PT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)可以確保不錯(cuò)過任何一個(gè)器件衰減的時(shí)間點(diǎn)。）
利用PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)，用戶可以設(shè)計(jì)更加可靠的電子封裝產(chǎn)品，并為其用戶提供精確的可靠性數(shù)據(jù)。PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)提供的測試及特性化數(shù)據(jù)，可以與熱仿真軟件FloTHERM和FloEFD結(jié)合使用，以調(diào)整和驗(yàn)證其熱學(xué)模型。
